塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)ZEM

               ——定量測量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電阻                             

產(chǎn)品介紹：

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的點，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用種儀器來測量。

產(chǎn)品點：

♦  擁有溫度控制的紅外金面加熱爐和控制溫差的微型加熱器；

♦  測量是由計算機控制的，并且能夠在定的溫度下執(zhí)行測量，并允許自動測量消除背底電動勢；

♦  歐姆接觸自動檢測功能（V-I圖）；

♦  可以用適配器來測量薄膜；

♦  可定制高阻型。 

產(chǎn)品結構：

樣品腔部分：

工作原理圖：

應用方向：

對于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的熱電性能分析。

可選功能：

1. 薄膜測量選件

2.低溫選件（溫度范圍-100℃到200℃）

3.高阻選件（可高達10MΩ）

參數(shù)配置：

附：

熱電材料/器件測試設備

測試數(shù)據(jù)

燒結P型Si₈₀Ge₂₀塞貝克系數(shù)及電阻率測量結果

發(fā)表文章

1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 

2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 

3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 

4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 

5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.

用戶單位

清華大學

中國科學技術大學

上海交通大學

復旦大學

南方科技大學

武漢理工大學

中國科學院上海硅酸鹽研究所

中國科學院大連化學物理研究所