碳納米管和石墨烯性能表征系統(tǒng)

       隨著納米技術(shù)的不斷發(fā)展，碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科學(xué)家的關(guān)注。然而，對于碳納米管和石墨烯性能表征直是困擾碳納米管和石墨烯技術(shù)研究和應(yīng)該的主要障礙。目前，碳納米管和石墨烯測量方法是光譜測量技術(shù)。相對其他測量方法，該技術(shù)主要有以下的點(diǎn)：   
     1、較高靈敏度，即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能精確測量。
     2、較高測量精度，對碳納米管的（n,m）分辨率很高。
     3、對待測樣品要求低，可直接分析含較多雜質(zhì)的樣品。
     4、測量設(shè)備相對簡單，準(zhǔn)備待測樣品非常容易。
     5、數(shù)據(jù)處理簡單，測量結(jié)果無需考慮背景減除。

       對于碳納米管和石墨烯性能的表征，雖然光譜測量技術(shù)有很大的點(diǎn)，但是由于沒有套系統(tǒng)是門針對研究碳納米管和石墨烯而設(shè)計(jì)的，所以測量過程還是有些問題，如獲取數(shù)據(jù)速度太慢，測量靈敏度不是很高，手工處理數(shù)據(jù)非常繁瑣且容易出錯(cuò)等等。著名的碳納米管家美國萊斯大學(xué)的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授針對這些問題開發(fā)了碳納米管的測量系統(tǒng)NS3。使得NS3系統(tǒng)成為目前上*的碳納米管和石墨烯測量系統(tǒng)，可對碳納米管和石墨烯進(jìn)行吸收、熒光和拉曼光譜測量。
         

          Nano Spectralyzer (NS3)系統(tǒng)                       NS3上的測量結(jié)果：碳納米管的近紅外發(fā)射光譜