[報(bào)告簡介]

    輕敲模式Tapping AFM-IR+是AFM-IR技術(shù)（也稱為PiFM, PTE and PTIR）新檢測模式，該技術(shù)通過探測AFM微懸臂對樣品光-熱膨脹的響應(yīng)信號(hào)，實(shí)現(xiàn)樣品局域紅外吸收信號(hào)的測量。

    我們將現(xiàn)場演示：在10 nm空間分辨率下，對聚合物復(fù)合材料的化學(xué)組分進(jìn)行納米尺度紅外成像，以及紅外光譜和高光譜測量。

    您將了解到neaspec如何實(shí)現(xiàn)：

    ?  無機(jī)械外力干擾下和無偽影信號(hào)的紅外吸收譜測量

    ?  樣品無損條件下，得到的質(zhì)數(shù)據(jù)

    ?  無需實(shí)操經(jīng)驗(yàn)下即可獲取高質(zhì)量信號(hào)

 [主講人]

Stefan Mastel博士和Sergiu Amarie博士

[報(bào)告時(shí)間]

2020年10月15日（星期二） 11:00 PM-12:00 PM (CST) 

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